仪器名称：高分辨率X射线衍射仪（XRD）

生产厂家：日本理学公司

型　　号：Smartlab

技术指标: 

1. 直入射强度>10⁷cps

2. 2theta和omega角的分辨率>0.01°

3. G220单色器，选用Cu-Kα1特征峰，波长0.15406nm

4. 吸收片自动转换

5. 限宽狭缝手动切换，2mm、5mm、10mm可选

功能特色: 

1. 面外扫描、摇摆曲线、反射、Phi扫描、倒易空间图

2. 对于单晶薄膜有较高分辨率

3. 全自动对光和扫描，自动化水平高

4. 对于RSM测量比较方便

5. 可原位30-500℃变温测量XRD

样品要求: 

1. 单晶或薄膜样品，尺寸不小于1mm×1mm，不大于50mm×50mm

2. 薄膜样品厚度一般不小于5个原胞，RSM一般不小于10nm

3. 无毒，无放射性

4. 在空气中不发生氧化或潮解等化学反应

仪器地点：物理楼B110

联系方式：唐老师，010-62791292，tangly@mail.tsinghua.edu.cn